減少電壓壓降產生與藕合電容的再繞線方法論

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DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	黃世宗	en_US
dc.contributor.author	Shih-Tsung Huang	en_US
dc.contributor.author	陳宏明	en_US
dc.contributor.author	Hung-Ming Chen	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-12T03:00:52Z	-
dc.date.available	2014-12-12T03:00:52Z	-
dc.date.issued	2005	en_US
dc.identifier.uri	http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT009367504	en_US
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/80066	-
dc.description.abstract	本論文研究之重點在APR的ECO可能遇上IR Drop和 coupling capacitance的問題,在此提出一種方法可以在做完ECO仍然有機會去修復這些問題.在此, 提供一個方法可以利用lower metal layers 以及在很短的時間就可以在 ECO 的階段局部有效改善 IR drop 和 coupling capacitance 的問題	zh_TW
dc.description.abstract	ECO could suffers voltage drop and coupling capacitance issues.We formulate this problem as a longest path problem and fix the violation by using lower metal layer power lines.	en_US
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.subject	電壓	zh_TW
dc.subject	藕合電容	zh_TW
dc.subject	繞線	zh_TW
dc.subject	ECO	en_US
dc.subject	voltage drop	en_US
dc.subject	coupling capacitance	en_US
dc.title	減少電壓壓降產生與藕合電容的再繞線方法論	zh_TW
dc.title	Voltage Drop Repair and Coupling Capacitance Reduction during ECO	en_US
dc.type	Thesis	en_US
dc.contributor.department	電機學院電子與光電學程	zh_TW
顯示於類別：	畢業論文

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