完整後設資料紀錄
DC 欄位 | 值 | 語言 |
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dc.contributor.author | 鄞毅捷 | en_US |
dc.contributor.author | Yin, I-Chieh | en_US |
dc.contributor.author | 王聖智 | en_US |
dc.contributor.author | Wang, Sheng-Jyh | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T03:03:05Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T03:03:05Z | - |
dc.date.issued | 2008 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT009411687 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/80601 | - |
dc.description.abstract | 在本論文中,我們提出一個能夠自動偵測LCD 面板上亮度不均勻的瑕疵, 並且以符合人眼視覺的方式去量化這些瑕疵的嚴重程度。其中,我們希望處理的 瑕疵包括: 水平或垂直跨整個螢幕的帶狀瑕疵,水平或垂直跨整個螢幕很細且訊 號很弱的細線瑕疵,以及在螢幕上緣像窗簾一樣亮暗間隔的窗簾瑕疵。針對帶狀 瑕疵和細線瑕疵,我們提出偵測的方法,並且以符合人眼視覺的方式去量化瑕疵 的嚴重程度,而窗簾瑕疵部份,我們則是提出偵測的方法。關於帶狀瑕疵的偵測, 我們先採用二次微分的運算去找出影像中亮度不均勻的帶狀區域,然後計算這些 可能是帶狀瑕疵區域的對比值,最後再利用清華大學所進行的人因實驗結果,來 決定人眼對這些瑕疵的感受程度。關於細線瑕疵的偵測,由於訊號十分微弱,不 易偵測,我們一樣先利用二次微分去找每個點跟附近點之相對亮暗關係,然後利 用細線瑕疵整條線的一致特性,來找到可能是瑕疵發生的地方,最後再利用人因 實驗的結果去決定人眼對這些區域的感受程度。關於窗簾瑕疵的偵測,則可以被 當成是只有影像上緣的帶狀瑕疵偵測,但是由於缺乏相關人因實驗的配合,所以 在這部份我們將只討論此類瑕疵的偵測。在本論文中,我們完成了這幾種瑕疵的 偵測與量化技術,並且經過實驗來證明這些演算法的確卻可以有效地找到瑕疵並 加以量化。 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | 瑕疵 | zh_TW |
dc.subject | 偵測 | zh_TW |
dc.subject | 液晶面板 | zh_TW |
dc.subject | 人眼視覺 | zh_TW |
dc.subject | 人因實驗 | zh_TW |
dc.subject | mura | en_US |
dc.subject | panel | en_US |
dc.subject | LCD | en_US |
dc.subject | detection | en_US |
dc.subject | human vision model | en_US |
dc.title | 以對比為基礎的液晶面板瑕疵偵測系統 | zh_TW |
dc.title | Contrast Based Mura Detection System for Liquid Crystal Display Panels | en_US |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 電子研究所 | zh_TW |
顯示於類別: | 畢業論文 |