單晶片系統驗證之核心技術開發---子計畫三：以特性為基礎之功能驗證與錯誤診斷(III)

Title:	單晶片系統驗證之核心技術開發---子計畫三：以特性為基礎之功能驗證與錯誤診斷(III) Property-Based Functional Verification and Error Diagnosis(III)
Authors:	黃俊達 Huang Juinn-Dar 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
Issue Date:	2007
Gov't Doc #:	NSC96-2220-E009-009
URI:	http://hdl.handle.net/11536/88362 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1464357&docId=262478
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APA	黃., & Huang J. (2007). 單晶片系統驗證之核心技術開發---子計畫三：以特性為基礎之功能驗證與錯誤診斷(III). https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1464357&docId=262478.
Bibtex	@article{2007, title={單晶片系統驗證之核心技術開發---子計畫三：以特性為基礎之功能驗證與錯誤診斷(III)}, author={黃俊達 and Huang Juinn-Dar}, journal={https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1464357&docId=262478}, year={2007}, url={https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/88362}, }