| 標題: | 先進製程技術之設計與可靠度提昇研究---子計畫三：在後佈局與測試設計所使用之良率改善技術研究(II) Yield Improvement Methodologies in Post-Layout Design Flow and Design for Test(II) |
| 作者: | 陳宏明 Chen Hung-Ming 國立交通大學電子工程學系及電子研究所 |
| 公開日期: | 2007 |
| 官方說明文件#: | NSC96-2220-E009-016 |
| URI: | http://hdl.handle.net/11536/88396 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1463670&docId=262311 |
| Appears in Collections: | Research Plans |
