標題: 先進製程技術之設計與可靠度提昇研究---子計畫三:在後佈局與測試設計所使用之良率改善技術研究(II)
Yield Improvement Methodologies in Post-Layout Design Flow and Design for Test(II)
作者: 陳宏明
Chen Hung-Ming
國立交通大學電子工程學系及電子研究所
公開日期: 2007
官方說明文件#: NSC96-2220-E009-016
URI: http://hdl.handle.net/11536/88396
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1463670&docId=262311
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