標題: 建構有未知值測試回應壓密之最佳化空間壓縮器
Building the Optimal Space Compactor for Test-Response Compaction with Unknown Values
作者: 趙家佐
Chao Mango Chia-Tso
國立交通大學電子工程學系及電子研究所
公開日期: 2007
摘要: 由於現代設計中掃瞄單位數量的劇增,掃瞄式測試的測試資料量以及測試時間也都 隨之增加。為了要在相同數目的ATE 通訊管道下縮減測試資料量與測試時間,研發人 員近年一直很積極地在尋找新的掃入資料壓縮 (scan-in stimulus compression) 與掃出回 應壓密 (scan-out response compaction) 的解決方法。對於掃出回應壓密而言,最大的困 難點就是處理模擬結果中掃出回應裡的未知值。如果沒有未知值存在,時間壓密器 (例 如Multiple Input Signature Registers) 可以將一組無限長的輸入序列壓密成一組固定長度 的簽證,而且保證會有一個小到可以被乎略的同名機率。然而,只要掃出回應中有一個 未知值存在,整個預期中正確電路的簽證就會變成未知,以致錯誤電路的簽證就沒有辦 法被識別出。因此,空間壓密器由於它的抗未知值特性,也就變成掃出回應壓密的重要 解法。 在這個計畫中,我們首先會分析時間壓密器所產生的遮避效應 (包含錯誤遮避以及 未知值遮避) 。第二,我們會嘗試著理論推導出各種不同時間壓密器結構下,各類遮避 效應發生的機率。第三,我們會將各類遮避效應發生的機率跟一個直接的測試品質度量 做連結,而非像以往的研究報告中與非直接測試品質度量做連結。最後,我們會發展一 套自動設計流程,在給定最低可接受之測試品質與可用測試資源之下,來產生最大壓密 比率的空間壓密器。
官方說明文件#: NSC96-2218-E009-005
URI: http://hdl.handle.net/11536/88415
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1400978&docId=250522
顯示於類別:研究計畫


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