建構有未知值測試回應壓密之最佳化空間壓縮器

Abstract

由於現代設計中掃瞄單位數量的劇增，掃瞄式測試的測試資料量以及測試時間也都 隨之增加。為了要在相同數目的ATE 通訊管道下縮減測試資料量與測試時間，研發人 員近年一直很積極地在尋找新的掃入資料壓縮 (scan-in stimulus compression) 與掃出回 應壓密 (scan-out response compaction) 的解決方法。對於掃出回應壓密而言，最大的困 難點就是處理模擬結果中掃出回應裡的未知值。如果沒有未知值存在，時間壓密器 (例 如Multiple Input Signature Registers) 可以將一組無限長的輸入序列壓密成一組固定長度 的簽證，而且保證會有一個小到可以被乎略的同名機率。然而，只要掃出回應中有一個 未知值存在，整個預期中正確電路的簽證就會變成未知，以致錯誤電路的簽證就沒有辦 法被識別出。因此，空間壓密器由於它的抗未知值特性，也就變成掃出回應壓密的重要 解法。 在這個計畫中，我們首先會分析時間壓密器所產生的遮避效應 (包含錯誤遮避以及 未知值遮避) 。第二，我們會嘗試著理論推導出各種不同時間壓密器結構下，各類遮避 效應發生的機率。第三，我們會將各類遮避效應發生的機率跟一個直接的測試品質度量 做連結，而非像以往的研究報告中與非直接測試品質度量做連結。最後，我們會發展一 套自動設計流程，在給定最低可接受之測試品質與可用測試資源之下，來產生最大壓密 比率的空間壓密器。