| 標題: | 先進製程技術之設計與可靠度提昇研究---子計畫三：在後佈局與測試設計所使用之良率改善技術研究(I) Yield Improvement Methodologies in Post-Layout Design Flow and Design for Test(I) |
| 作者: | 陳宏明 Chen Hung-Ming 交通大學電子工程系 |
| 公開日期: | 2006 |
| 官方說明文件#: | NSC95-2220-E009-028 |
| URI: | http://hdl.handle.net/11536/89041 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1279656&docId=234497 |
| Appears in Collections: | Research Plans |
