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dc.contributor.author蘇德欽en_US
dc.contributor.authorSU DER-CHINen_US
dc.date.accessioned2014-12-13T10:29:46Z-
dc.date.available2014-12-13T10:29:46Z-
dc.date.issued2006en_US
dc.identifier.govdocNSC95-2221-E009-236-MY3zh_TW
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/89625-
dc.identifier.urihttps://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1309386&docId=241955en_US
dc.description.abstract本研究中希望將高透光率的透明生化材料加以可視化的成像,以利觀察。所欲進行的成像觀察,可 分為強度型及相位型等兩部份。在強度型成像觀察中,使用單色光或多色光,其入射角由0逐漸加大至 布魯斯特角、臨界角、表面電漿效應的共振角及grazing incident angle,探討反射光或透過光強度對入射 角及折射率(折射率與波長有關)變化最大的條件,在該條件之下,待測材料將可形成對比度佳的影像。 在相位型成像觀察中,使用線性偏光、線性外差偏光及旋光外差偏光,入射至待測材料,並適當引入偏 光元件,作為移相器或提高幹涉信號對比度用,探討在各種入射角之下,反射光的單一偏光份量的相位 移或正交偏光份量間的相位差為最大的條件,引進相移干涉術及外差干涉術測出待測材料二度空間的相 位移分佈或相位差分佈;接著代入由Fresnel』s equations 所導出的式子中,即可求得待測材料的二度空 間折射率分佈;然後再使用折射率色度圖即可對待測材料成像。不管強度型相位型成像系統中,最後將 與顯微成像技術相結合,期能觀察微小生化透明材料,並試組出如布魯斯特顯微鏡、全反射顯微鏡、表 面電漿共振顯微鏡及正入射顯微鏡等各種顯微鏡。與傳統成像法比較,本研究方法具有無外加染料及螢 光材料等污染的乾淨成像的優點。zh_TW
dc.description.sponsorship行政院國家科學委員會zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject折射率zh_TW
dc.subjectFresnel 方程式zh_TW
dc.subject相位差zh_TW
dc.subject相移干涉術zh_TW
dc.subject外差干涉術zh_TW
dc.subject顯微術zh_TW
dc.subject顯微鏡zh_TW
dc.subjectrefractive indexen_US
dc.subjectFresnel's equationsen_US
dc.subjectphase differenceen_US
dc.subjectphase-shifting interferometryen_US
dc.subjectheterodyneinterferometryen_US
dc.subjectmicroscopyen_US
dc.subjectmicroscope.en_US
dc.title小透明生化材料可視化成像研究與其在顯微術上的應用zh_TW
dc.titleStudies on Visible Imagings of Small Transparent Biochemical Materials and Its Applications on Microscopyen_US
dc.typePlanen_US
dc.contributor.department交通大學光電工程研究所zh_TW
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