考慮量規測量誤差的單邊規格製程能力測量方法

Abstract

在製造工業裡，許多產品的重要品質特性是屬於單邊規格的。 在單邊規格的 情況下，關於製程能力的測量，大家所熟知且廣為應用的製程能力指標，為 PU C 以 及 PL C 。 文獻上，目前所存在的關於製程能力的研究成果，都是假設在沒有量規 測量誤差存在的情況下，所作的製程能力的測量。 不幸的是，沒有測量誤差的假 設並不符合現實的狀況。 即使在量測重要品質特性的資料時，是使用最先進且高 度精密的測量工具，仍然無法避免測量誤差的存在。 由此觀之，用沒有測量誤差 存在的假設，來作出對於製程能力的結論，並不可靠。 在本計劃中，我們考慮單 邊規格製程能力指標 PU C 以及 PL C 的估計與假設檢定，並且假設了測量誤差的 存在。 如此一來，我們可以獲得反應真正製程能力，經過校正的 PU C 以及 PL C 的信賴區間下界，以及作為檢定製程能力相當方便的臨界值。 本計劃主要的貢 獻，在於測量誤差無法避免的情況下，對於工廠的製程是否達到預先設定的製程 能力要求，我們可以根據此研究成果作出更為貼近事實且較為可靠的決策。