對於超低不良率生產製程的品質良率評估方法之研究

Abstract

製程良率是目前製造業中最廣為接受的製程績效好壞的判定準則。 一個更為先進的製程績效測量公式，稱作品質良率指標 (Y)，接著被提出來。針對任意的製程分配，品質良率的計算方式是把顧客的損失考慮進來。 品質良率的基本想法是，以製程良率為基準，當我們所探討的產品特徵偏離目標值的時候，對製程良率作一個處罰的動作。這種作法的用意是，除了傳統的製程良率之外，同時將產品的平均損失也併入考慮。 事實上，品質良率可以表示成傳統的良率扣掉落在製程規格內的產品期望相對損失。如此一來，我們便能很成功的把「一個製程是否有辦法重複製造可以滿足顧客的產品」的程度，加以量化表示。 在本計劃中，我們提出一個相當可靠的方法來測量品質良率。尤其是針對不良率非常低的高科技產業製程。然而，舊有的品質良率研究僅止於點估計值的計算。但依據點估計值所下的決策缺乏抽樣誤差的考慮因此並不可靠。所以在本計劃中我們希望進一步發展出品質良率的信賴區間下界。 品質良率信賴區間下界不但可同時反應出製程之產品不良率與顧客品質損失；而且，在以品質良率作為假設檢定產品是否達到所要求的品質水準時，品質良率信賴區間下界更提供了決策者一個有用且可靠的決策判別準則。