平面顯示面板(OLED/PLED)瑕疵之機器視覺檢測與分類方法研究(I)

Abstract

有機發光二極體顯示面板（OLED/PLED）為具有自髮色光性質（不需背光源、彩 色濾光片）之最新平面顯示元件（Planar display），其可大幅降低成本及減少顯示模組 厚度，使其具更輕薄（≦2mm）、高亮度、較無視角限制（＞165 度）、高反應速度（10 μs 以下）、低驅動電壓（5.15V）、低耗電、可撓曲（適用於塑膠基板）與製程簡單 等優點。因此近年來有許多廠商投入平面顯示元件的製造生產，但是多數廠商面臨到因 製程不夠穩定，容易發生膠寬（rubber width）過窄、蓋板刮傷（surface scratch）、亮度 不均勻、暗點（發生於PF layer、Metal layer）、色純度不一致等瑕疵的問題。面對上述 的問題，平面顯示元件製造廠現階段是利用人工目視檢測，但人工目視檢測容易疲勞， 且正確性不佳。以OLED 為例，一片7cm*4cm 之OLED 上約有1600 個發光點，如此微 小的光點，利用人工目視檢測，想必其品質的一致性必定會受到影響。因此，考慮到未 來平面顯示元件量產，人工目視檢測將漸不敷使用，所以本計畫希望能開發快速、穩定、 正確的AOI 演算法來進行平面顯示元件瑕疵檢測，以代替傳統人工目視檢測方法，改善 平面顯示元件成品檢測的成效。 鑑於不同的光源與不同的照明方式會影響檢測的結果，因此本計畫擬針對上述的瑕 疵，並配合適當設計之光源與照明方式，以改善影像擷取之品質、提高自動光學檢測之 效果、提昇平面顯示元件檢測的成效。