標題: | 運用掃描式探針顯微鏡研製與分析矽奈米電子元件(II) Fabrication and Characterization of Silicon Nanoelectronic Devices with Scanning Probe Microscope(II) |
作者: | 許鉦宗 SHEU JENG TZONG 國立交通大學奈米科技研究所 |
公開日期: | 2004 |
官方說明文件#: | NSC93-2215-E009-080 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/91236 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1027499&docId=195424 |
顯示於類別: | 研究計畫 |