射頻電路系統前瞻測試技術開發(I)

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DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	蘇朝琴	en_US
dc.contributor.author	SU CHAU-CHIN	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-13T10:32:54Z	-
dc.date.available	2014-12-13T10:32:54Z	-
dc.date.issued	2003	en_US
dc.identifier.govdoc	NSC92-2218-E009-012	zh_TW
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/91781	-
dc.identifier.uri	https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=874721&docId=167675	en_US
dc.description.sponsorship	行政院國家科學委員會	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.title	射頻電路系統前瞻測試技術開發(I)	zh_TW
dc.title	Advanced Test Technology Development for RF Circuits and Systems (I)	en_US
dc.type	Plan	en_US
dc.contributor.department	國立交通大學電機與控制工程學系	zh_TW
顯示於類別：	研究計畫

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