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dc.contributor.author陳衛國en_US
dc.contributor.authorWEI-KUOCHENen_US
dc.date.accessioned2014-12-13T10:32:56Z-
dc.date.available2014-12-13T10:32:56Z-
dc.date.issued2003en_US
dc.identifier.govdocNSC92-2112-M009-028zh_TW
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/91798-
dc.identifier.urihttps://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=838076&docId=158323en_US
dc.description.sponsorship行政院國家科學委員會zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.title微結構之顯微電性量測(I)zh_TW
dc.titleStudies of Microstructure by Micro-Electrical Characterization Methods (I)en_US
dc.typePlanen_US
dc.contributor.department國立交通大學電子物理學系zh_TW
顯示於類別:研究計畫


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  1. 922112M009028.pdf

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