統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Effect of NH(3) Plasma Nitridation on Hot-Carrier Instability and Low-Frequency Noise in Gd-Doped High-kappa Dielectric nMOSFETs | 113 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Effect of NH(3) Plasma Nitridation on Hot-Carrier Instability and Low-Frequency Noise in Gd-Doped High-kappa Dielectric nMOSFETs | 0 | 0 | 0 | 0 | 4 | 2 | 0 |
檔案下載
| 檢視 |
|---|
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 95 |
| 美國 | 11 |
| 加拿大 | 3 |
| 愛爾蘭 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 95 |
| Kensington | 4 |
| Menlo Park | 4 |
| Ottawa | 3 |
| Dallas | 2 |
| Edmond | 1 |