統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Reliability mechanisms of LTPS-TFT with HfO2 gate dielectric: PBTI, NBTI, and hot-carrier stress | 120 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Reliability mechanisms of LTPS-TFT with HfO2 gate dielectric: PBTI, NBTI, and hot-carrier stress | 0 | 0 | 0 | 0 | 1 | 4 | 0 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000255317900008.pdf | 101 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 95 |
| 美國 | 18 |
| 越南 | 2 |
| 愛爾蘭 | 1 |
| 肯亞 | 1 |
| 台灣 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 94 |
| Kensington | 8 |
| Menlo Park | 8 |
| Buffalo | 2 |
| Hanoi | 2 |
| Beijing | 1 |
| Taipei | 1 |