統計資料

總造訪次數

檢視
深次微米元件內熱載子效應所造成汲極漏電流特性退化之研究 113

本月總瀏覽

六月 2025 七月 2025 八月 2025 九月 2025 十月 2025 十一月 2025 十二月 2025
深次微米元件內熱載子效應所造成汲極漏電流特性退化之研究 0 0 0 1 0 0 0

檔案下載

檢視
882215E009042.pdf 3

國家瀏覽排行

檢視
中國 98
美國 12
台灣 2

縣市瀏覽排行

檢視
Shenzhen 94
Kensington 6
Beijing 4
Menlo Park 4
Edmond 2
Kaohsiung 2