統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| 單電荷與輻射效應在先進CMOS 和SONOS 元件可靠性之統計量測與模式 | 114 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 單電荷與輻射效應在先進CMOS 和SONOS 元件可靠性之統計量測與模式 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 |
檔案下載
| 檢視 |
|---|
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 99 |
| 美國 | 13 |
| 愛爾蘭 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 93 |
| Beijing | 6 |
| Menlo Park | 6 |
| Kensington | 5 |
| Edmond | 2 |