次微米元件內氧化層缺陷暫態特性量測技術

Date

Authors

Keywords

氧化層缺陷 , 暫態特性 , 空間分布 , 電場效應 , Oxide trap , Transient characteristics , Spatial distribution , Field effect

URI

https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=409152&docId=72447
https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/95073

Collections

研究計畫;;Research Plans