超快掃描探針式顯微術及其應用之研究

標題:	超快掃描探針式顯微術及其應用之研究 Ultrafast Scanning Probe Microscopies and Applications
作者:	潘犀靈 CI-LINGPAN 交通大學光電工程研究所
關鍵字:	近場;光學顯微術;時間序列分析;光譜分析;Near field;Optical microscopy;Time series analysis;Spectrum analysis
公開日期:	1997
官方說明文件#:	NSC86-2811-E009-001
URI:	http://hdl.handle.net/11536/95490 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=278672&docId=50170
顯示於類別：	研究計畫