利用飛秒級激發-檢測技術研究高溫超導體的特性

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DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	吳光雄	en_US
dc.contributor.author	WU KAUNG-HSIUNG	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-13T10:38:44Z	-
dc.date.available	2014-12-13T10:38:44Z	-
dc.date.issued	1996	en_US
dc.identifier.govdoc	NSC85-2112-M009-004	zh_TW
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/95617	-
dc.identifier.uri	https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=227988&docId=41178	en_US
dc.description.sponsorship	行政院國家科學委員會	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.subject	飛秒級激發-檢測技術	zh_TW
dc.subject	超導薄膜光學反應	zh_TW
dc.subject	準粒子弛緩行為	zh_TW
dc.subject	Femtosecond pump-probe technique	en_US
dc.subject	Optical resoponse of HTSC thin film	en_US
dc.subject	Quasiparticle relaxation behavior	en_US
dc.title	利用飛秒級激發-檢測技術研究高溫超導體的特性	zh_TW
dc.title	Study the Characteristics of High Tc Superconductors by Femtosecond Pump-Probe Technique	en_US
dc.type	Plan	en_US
dc.contributor.department	國立交通大學電子物理學系	zh_TW
顯示於類別：	研究計畫