0.85 微米面射型雷射可靠度與雜訊品質之研究

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DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	戴國仇	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-13T10:39:23Z	-
dc.date.available	2014-12-13T10:39:23Z	-
dc.date.issued	1995	en_US
dc.identifier.govdoc	NSC84-2215-E009-035	zh_TW
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/96435	-
dc.identifier.uri	https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=172350&docId=29298	en_US
dc.description.sponsorship	行政院國家科學委員會	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.title	0.85 微米面射型雷射可靠度與雜訊品質之研究	zh_TW
dc.title	Reliability Studies and Noise Measurement of 0.85.mu.m Surface Emitting Lasers	en_US
dc.type	Plan	en_US
dc.contributor.department	國立交通大學光電工程研究所	zh_TW
顯示於類別：	研究計畫