多晶片模組設計自動化與測試系統---子計畫一：在MCM環境下之測試樣

標題:	多晶片模組設計自動化與測試系統---子計畫一：在MCM環境下之測試樣 Test Gemeration System in the MCM Environment
作者:	林呈祥國立台灣大學電機工程學研究所
公開日期:	1994
官方說明文件#:	NSC83-0404-E002-055
URI:	http://hdl.handle.net/11536/97227 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=109852&docId=17487
Appears in Collections:	Research Plans