研究傳輸線上信號在砷化鎵晶片上的理論計算與時域測量

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DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	張振雄	en_US
dc.contributor.author	CHANG CHEN-SHIUNG	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-13T10:40:19Z	-
dc.date.available	2014-12-13T10:40:19Z	-
dc.date.issued	1994	en_US
dc.identifier.govdoc	NSC83-0404-E009-056	zh_TW
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/97391	-
dc.identifier.uri	https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=120688&docId=20128	en_US
dc.description.abstract	我們自從已推導出的傳輸線理論,可瞭解到幾種常用之傳輸線的特性,諸如在傳輸線上介質之有效介電常數和其電性阻抗.由此可推算出信號在不同結構的傳輸線中,對頻率的損耗及色散大小.更進一步也在實驗上藉著電光取樣的技術,我們在時域上可量測到信號的相位, 損耗及傳輸速度在不同時間上的變化,並與理論公式所預測之結果加以比較.	zh_TW
dc.description.sponsorship	行政院國家科學委員會	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.subject	傳輸線	zh_TW
dc.subject	電光取樣	zh_TW
dc.subject	砷化鎵	zh_TW
dc.subject	Transmission line	en_US
dc.subject	Electro-optic sampling	en_US
dc.subject	GaAs	en_US
dc.title	研究傳輸線上信號在砷化鎵晶片上的理論計算與時域測量	zh_TW
dc.title	To Investigate the Time-Domain Calculation and the Measurement of a Propagating Signal on Transmission Lines in GaAs Substrate	en_US
dc.type	Plan	en_US
dc.contributor.department	國立交通大學光電工程研究所	zh_TW
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