應用良率分析於生產不同積體電路產品之生產線製造績效評估之研究

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Date

Authors

Keywords

積體電路 , 良率分析 , 績效評估 , 修正卜松模式 , Integrated circuit (IC) , Yield analysis , Performance evaluation , Modified Poisson model

URI

https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=460934&docId=84442
https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/94708

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研究計畫;;Research Plans