超大型積體電路測試與可測性設計課程發展---子計畫六：自動測試應用(III)

Date

Authors

Keywords

超大型積體電路測試 , 自動測試機 , 課程發展 , VLSI testing , Automatic testing equipment , Curriculum development

URI

https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=334775&docId=59356
https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/94781

Collections

研究計畫;;Research Plans