試鏡架與試鏡架關鍵參數量測方法

dc.citation.patentcountry	TWN	zh_TW
dc.citation.patentnumber	201600900	zh_TW
dc.contributor.author	莊仁輝	en_US
dc.contributor.author	林彥碩	en_US
dc.contributor.author	謝易育	en_US
dc.date.accessioned	2016-12-20T05:04:13Z
dc.date.available	2016-12-20T05:04:13Z
dc.date.issued	2016-01-01	en_US
dc.description.abstract	一種試鏡架，包含試鏡架本體以及具幾何特徵之視覺不變性之至少一量測標的。試鏡架本體具有至少一關鍵參數。量測標的設置於試鏡架本體上，用以搭配一種量測方法，藉由攝相裝置紀錄下在試鏡架為使用者適用狀態時，量測標的之平面影像，並且藉由量測標的之平面影像推算出試鏡架之關鍵參數。	zh_TW
dc.identifier.govdoc	G02C007/02	zh_TW
dc.identifier.govdoc	G01B011/24	zh_TW
dc.identifier.govdoc	G01M011/02	zh_TW
dc.identifier.uri	https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/132237
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.title	試鏡架與試鏡架關鍵參數量測方法	zh_TW
dc.type	Patents	en_US

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