Skip to main content
Log In
Communities & Collections
All of DSpace
Statistics
Home
學術出版;;Publications
專利資料;;Patents
試鏡架與試鏡架關鍵參數量測方法
試鏡架與試鏡架關鍵參數量測方法
Loading...
Date
2016-01-01
Authors
莊仁輝
林彥碩
謝易育
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
DOI
Abstract
一種試鏡架,包含試鏡架本體以及具幾何特徵之視覺不變性之至少一量測標的。試鏡架本體具有至少一關鍵參數。量測標的設置於試鏡架本體上,用以搭配一種量測方法,藉由攝相裝置紀錄下在試鏡架為使用者適用狀態時,量測標的之平面影像,並且藉由量測標的之平面影像推算出試鏡架之關鍵參數。
Description
Keywords
Citation
URI
https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/132237
Collections
專利資料;;Patents
Endorsement
Review
Supplemented By
Referenced By
Full item page