研究傳輸線上信號在砷化鎵晶片上的理論計算與時域測量

Abstract

我們自從已推導出的傳輸線理論,可瞭解到 幾種常用之傳輸線的特性,諸如在傳輸線上介 質之有效介電常數和其電性阻抗.由此可推算 出信號在不同結構的傳輸線中,對頻率的損耗 及色散大小.更進一步也在實驗上藉著電光取 樣的技術,我們在時域上可量測到信號的相位, 損耗及傳輸速度在不同時間上的變化,並與理 論公式所預測之結果加以比較.