研究傳輸線上信號在砷化鎵晶片上的理論計算與時域測量

標題:	研究傳輸線上信號在砷化鎵晶片上的理論計算與時域測量 To Investigate the Time-Domain Calculation and the Measurement of a Propagating Signal on Transmission Lines in GaAs Substrate
作者:	張振雄 CHANG CHEN-SHIUNG 國立交通大學光電工程研究所
關鍵字:	傳輸線;電光取樣;砷化鎵;Transmission line;Electro-optic sampling;GaAs
公開日期:	1994
摘要:	我們自從已推導出的傳輸線理論,可瞭解到幾種常用之傳輸線的特性,諸如在傳輸線上介質之有效介電常數和其電性阻抗.由此可推算出信號在不同結構的傳輸線中,對頻率的損耗及色散大小.更進一步也在實驗上藉著電光取樣的技術,我們在時域上可量測到信號的相位, 損耗及傳輸速度在不同時間上的變化,並與理論公式所預測之結果加以比較.
官方說明文件#:	NSC83-0404-E009-056
URI:	http://hdl.handle.net/11536/97391 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=120688&docId=20128
顯示於類別：	研究計畫