瀏覽 的方式: 作者 Su, Der-Chin
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公開日期 | 標題 | 作者 |
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2010 | 使用新穎取樣技術之全場外差干涉儀 | 謝鴻志; Hsieh, Hung-Chih; 蘇德欽; Su, Der-Chin; 光電工程學系 |
1997 | 光微影蝕刻技術中濾波效應之分析 | 李俊佑; Lee, Chun-You; 蘇德欽; Su, Der-Chin; 光電工程學系 |
2010 | 全場顯微干涉術及其在折射率及表面形貌之量測應用 | 陳彥良; Chen, Yen-Liang; 蘇德欽; Su, Der-Chin; 光電工程學系 |
2011 | 外差干涉術在中央條紋法的應用與誤差分析 | 吳旺聰; Wu, Wang-Tsung; 蘇德欽; Su, Der-Chin; 光電工程學系 |
2009 | 干涉相位量測術及其應用 於光學參數之測量 | 簡志成; Jian, Zhi-Cheng; 蘇德欽; Su, Der-Chin; 光電工程學系 |
1996 | 相移光罩中最少相位衝突的圖案修正 | 郭智亮; Kuo, Chi-Liang; 蘇德欽; Su, Der-Chin; 光電工程學系 |