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公開日期標題作者
2002CMOS元件1/f雜訊特性分析與模擬邱凱翎; Kai-Ling Chiu; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2002LDMOS功率元件特性分析及可靠性研究李兆琪; Chao Chi Lee; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2002SONOS元件內儲存電子之能量分佈與傳輸行為江欣凱; Hsin-Kai Chiang; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2007SONOS記憶體因寫入電子之隨機特性造成臨界電壓擾動之模擬分析林彥君; Yen-Chen Lin; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2006SONOS記憶體陣列中因二次熱電子引致寫入干擾之蒙地卡羅分析李致維　; Chih-Wei Li; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
1995一種新式氧化層缺陷量測方法蔣汝平; Chiang, Lu-Ping; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
1996一種量測快閃式記憶體元件中微量漏電流的新式方法王智弘; Wang, Chih-Hung; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
1994三維微電子真空元件模擬李殷; Yiin Lee; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
1992三維真空微電子場放射元件模擬器蔡文哲; Wen-Jer Tsai; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2007二氧化鉿奈米晶體快閃式記憶元件可靠度分析李智雄　; Chih-Hsiiung Li; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
1992二維量子井半導體雷射模擬葉文中; Wen-Jong Yeh; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2007以NafionTM/PR包埋結構作為REFET參考場效電晶體感測層之研究陳明聰; Ming-Cong Chen; 汪大暉; Tahui Wang; 電機學院微電子奈米科技產業專班
2006先進 VLSI元件中遠程庫倫散射引起電子遷移率衰減之研究吳致融; Chih-Jung Wu; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2005先進閘極介電層互補式金氧半電晶體中電壓溫度引致不穩定性之研究詹前泰; Chien-Tai Chan; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2007利用RTS 方法研究SONOS 快閃記憶體寫入/抹除電荷之橫向分佈特性趙元鵬; Yuan-Peng Chao; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
1996利用暫態電流量測技術研究超大型積體電路元件中氧化層之可靠度張澤恩; Chang, Tse-En; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2007利用氧化提昇矽鍺奈米線生物感測器之靈敏度趙文全; Wen-Chuan Chao; 汪大暉; Tahui Wang; 電機學院微電子奈米科技產業專班
2006利用特殊接觸電極研究橫向擴散元件之自發熱效應與可靠度林家福; Jia-Fu Lin; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2007利用特殊接觸電極進行橫向擴散元件之特性分析與SPICE模型建立熊勖廷; Hsu-Ting Shiung; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2006利用蒙地卡羅模擬在應變矽晶面上不同通道方向之電洞傳輸特性許家源　; Jia-Yuan Shiu; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
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