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| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 2000 | 超薄閘極氧化層退化機制之完整研究 | 康定國; Kang, Ting-Kuo; 陳明哲; Chen, Ming-Jer; 電子研究所 |
| 1996 | 電漿製程產生的天線效應對以超薄氧化層製作的深次微米元件可靠度之影響 | 簡昭欣; Chien, Chao-Hsin; 張俊彥; Chang Chun-Yen; 電子研究所 |
| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 2000 | 超薄閘極氧化層退化機制之完整研究 | 康定國; Kang, Ting-Kuo; 陳明哲; Chen, Ming-Jer; 電子研究所 |
| 1996 | 電漿製程產生的天線效應對以超薄氧化層製作的深次微米元件可靠度之影響 | 簡昭欣; Chien, Chao-Hsin; 張俊彥; Chang Chun-Yen; 電子研究所 |