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公開日期標題作者
1-四月-2011Characterization of Enhanced Stress Memorization Technique on nMOSFETs by Multiple Strain-Gate EngineeringLu, Tsung-Yi; Chang, Tien-Shun; Huang, Shih-An; Chao, Tien-Sheng; 電子物理學系; Department of Electrophysics
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