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公開日期標題作者
16-九月-2005A Bayesian approach for assessing process precision based on multiple samplesPearn, WL; Wu, CW; 工業工程與管理學系; Department of Industrial Engineering and Management
1999Evaluation of impurity migration and microwave digestion methods for lithographic materialsKo, FH; Hsiao, LT; Chou, CT; Wang, MY; Wang, TK; Sun, YC; Cheng, BJ; Yeng, S; Dai, BT; 奈米中心; Nano Facility Center
1-三月-2001Statistical process monitoring using an empirical Bayes multivariate process control chartFeltz, CJ; Shiau, JJH; 統計學研究所; Institute of Statistics
1-四月-2006Variables sampling plans with PPM fraction of defectives and process loss considerationPearn, WL; Wu, CW; 工業工程與管理學系; Department of Industrial Engineering and Management
2009以MDG (MLCs Directed Graph)為基礎來尋求一多媒體教材素材的品質管制方法李仲智; Lee, Chung-Chih; 陳登吉; Chen, Deng-Jyi; 資訊學院資訊學程
2000學習曲線在TFT-LCD產業之應用研究吳文智; Wen-Chih Wu; 楊金福; Chin-Fu Yang; 工業工程與管理學系
1999學習曲線在通訊產業之應用 － 個案研究王佳鎮; Chia-Chen Wang; 楊金福; Chu-Fu Yang; 工業工程與管理學系
2006容忍區間及新方法探討貨品接受之研究吳志文; Chih-Wen Wu; 陳鄰安; Lin-An Chen; 統計學研究所
2006迴歸容忍區間應用在一批產品符合規格的研究與新方法林益通; Yi-Tung Lin; 陳鄰安; Lin-An Chen; 統計學研究所
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