瀏覽 的方式： 作者 蔡銘謙
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| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 1-九月-2013 | 以六電晶體為基礎架構之靜態隨機記憶體陣列 | 莊景德; 周世傑; 黃威; 林宜緯; 蔡銘謙; 楊皓義; 杜明賢; 石維強; 連南鈞; 李坤地 |
| 2015 | 奈米磁鐵FePt在PN接面二極體結構之磁電耦合特性 | 蔡銘謙; Tsai Ming-Chian; 張俊彥; Chang, Chun-Yen; 電子工程學系 電子研究所 |
| 2010 | 奈米級CMOS靜態隨機存取記憶體之負/正偏壓溫度效應劣化現象與雜訊邊界量測電路 | 蔡銘謙; Tsai, Ming-Chien; 周世傑; Jou, Shyh-Jye; 電子研究所 |
| 1-九月-2013 | 用以量測偏壓溫度效應之環形震盪器 | 莊景德; 周世傑; 黃威; 蔡銘謙; 林宜緯; 楊皓義; 杜明賢; 石維強; 連南鈞; 李坤地 |
| 1-五月-2015 | 用以量測偏壓溫度效應之環形震盪器 | 莊景德; 周世傑; 黃威; 蔡銘謙; 林宜緯; 楊皓義; 杜明賢; 石維強; 連南鈞; 李坤地 |
| 1-二月-2014 | 臨界電壓量測裝置 | 莊景德; 周世傑; 林耕慶; 王紹丞; 林宜緯; 蔡銘謙; 石維強; 連南鈞; 李坤地; 朱俊愷 |
| 16-十一月-2013 | 臨界電壓量測裝置 | 莊景德; 周世傑; 林耕慶; 王紹丞; 林宜緯; 蔡銘謙; 石維強; 連南鈞; 李坤地; 朱俊愷 |