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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Jhu, Jhe-Ciou
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顯示 1 到 7 筆資料,總共 7 筆
公開日期
標題
作者
1-四月-2012
Abnormal Subthreshold Leakage Current at High Temperature in InGaZnO Thin-Film Transistors
Chang, Geng-Wei
;
Chang, Ting-Chang
;
Jhu, Jhe-Ciou
;
Tsai, Tsung-Ming
;
Syu, Yong-En
;
Chang, Kuan-Chang
;
Tai, Ya-Hsiang
;
Jian, Fu-Yen
;
Hung, Ya-Chi
;
光電工程學系
;
Department of Photonics
1-十月-2015
Investigation of Hydration Reaction-Induced Protons Transport in Etching-Stop a-InGaZnO Thin-Film Transistors
Jhu, Jhe-Ciou
;
Chang, Ting-Chang
;
Chang, Kuan-Chang
;
Yang, Chung-Yi
;
Chou, Wu-Ching
;
Chou, Cheng-Hsu
;
Chung, Wang-Cheng
;
電子物理學系
;
Department of Electrophysics
2012
N2O Plasma Treatment Suppressed Temperature-dependent Point Defects Formation with Amorphous Indium-Gallium-Zinc-Oxide Thin Film Transistors
Jhu, Jhe-Ciou
;
Chang, Ting-Chang
;
Chang, Geng-Wei
;
Syu, Yong-En
;
Tsai, Tsung-Ming
;
Jian, Fu-Yen
;
Chang, Kuan-Chang
;
Tai, Ya-Hsiang
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-九月-2013
N2O plasma treatment suppressed temperature-dependent sub-threshold leakage current of amorphous indium-gallium-zinc-oxide thin film transistors
Chang, Geng-Wei
;
Chang, Ting-Chang
;
Jhu, Jhe-Ciou
;
Tsai, Tsung-Ming
;
Syu, Yong-En
;
Chang, Kuan-Chang
;
Jian, Fu-Yen
;
Hung, Ya-Chi
;
Tai, Ya-Hsiang
;
光電工程學系
;
Department of Photonics
28-十一月-2013
Reduction of defect formation in amorphous indium-gallium-zinc-oxide thin film transistors by N2O plasma treatment
Jhu, Jhe-Ciou
;
Chang, Ting-Chang
;
Chang, Geng-Wei
;
Tai, Ya-Hsiang
;
Tsai, Wu-Wei
;
Chiang, Wen-Jen
;
Yan, Jing-Yi
;
光電工程學系
;
Department of Photonics
30-四月-2012
Suppress temperature instability of InGaZnO thin film transistors by N2O plasma treatment, including thermal-induced hole trapping phenomenon under gate bias stress
Chang, Geng-Wei
;
Chang, Ting-Chang
;
Jhu, Jhe-Ciou
;
Tsai, Tsung-Ming
;
Syu, Yong-En
;
Chang, Kuan-Chang
;
Tai, Ya-Hsiang
;
Jian, Fu-Yen
;
Hung, Ya-Chi
;
光電工程學系
;
Department of Photonics
1-六月-2014
Temperature-Dependent Instability of Bias Stress in InGaZnO Thin-Film Transistors
Chang, Geng-Wei
;
Chang, Ting-Chang
;
Jhu, Jhe-Ciou
;
Tsai, Tsung-Ming
;
Chang, Kuan-Chang
;
Syu, Yong-En
;
Tai, Ya-Hsiang
;
Jian, Fu-Yen
;
Hung, Ya-Chi
;
光電工程學系
;
Department of Photonics