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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Ku, Chih-You
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顯示 1 到 6 筆資料,總共 6 筆
公開日期
標題
作者
2009
Flicker Noise in Nanoscale pMOSFETs with Mobility Enhancement Engineering and Dynamic Body Biases
Yeh, Kuo-Liang
;
Ku, Chih-You
;
Hong, Wei-Lun
;
Guo, Jyh-Chyurn
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2013
The Impact of Layout Dependent Stress and Gate Resistance on High Frequency Performance and Noise in Multifinger and Donut MOSFETs
Ku, Chih-You
;
Yeh, Kuo-Ling
;
Guo, Jyh-Chyurn
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2010
The Impact of MOSFET Layout Dependent Stress on High Frequency Characteristics and Flicker Noise
Yeh, Kuo-Liang
;
Ku, Chih-You
;
Guo, Jyh-Chyurn
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-八月-2010
The Impact of Uni-axial Strain on Low Frequency Noise in Nanoscale p-Channel Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistors under Dynamic Body Biases
Yeh, Kuo-Liang
;
Ku, Chih-You
;
Guo, Jyh-Chyurn
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2009
Low Frequency Noise in Nanoscale pMOSFETs with Strain Induced Mobility Enhancement and Dynamic Body Biases
Yeh, Kuo-Liang
;
Ku, Chih-You
;
Hong, Wei-Lun
;
Guo, Jyh-Chyurn
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2010
射頻金氧半場效電晶體元件佈局對高頻特性與低頻雜訊之影響以應用於射頻與類比電路
古智友
;
Ku, Chih-You
;
郭治群
;
Guo, Jyh-Chyurn
;
電子研究所