瀏覽 的方式： 作者 Takeshita, T.
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| 公開日期 | 標題 | 作者 |
| 2015 | Improvement of Oxide Reliability in NAND Flash Memories Using Tight Endurance Cycling with Shorter Idling Period | Shirota, R.; Yang, B-J.; Chiu, Y-Y.; Wu, Y-T.; Wang, P-Y.; Chang, J-H.; Yano, M.; Aoki, M.; Takeshita, T.; Wang, C-Y.; Kurachi, I.; 電子工程學系及電子研究所; Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics |
