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畢業紀念冊
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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Tseng, HC
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顯示 1 到 17 筆資料,總共 17 筆
公開日期
標題
作者
1-十一月-1996
Characterization of boron silicide layer deposited by ultrahigh-vacuum chemical-vapor deposition
Tseng, HC
;
Pan, FM
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
20-十月-1997
Effects of isolation materials on facet formation for silicon selective epitaxial growth
Tseng, HC
;
Chang, CY
;
Pan, FM
;
Chen, JR
;
Chen, LJ
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-六月-1997
Effects of isolation oxides on undercut formation and electrical characteristics for silicon selective epitaxial growth
Tseng, HC
;
Chang, CY
;
Pan, FM
;
Chen, LP
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-六月-1997
Effects of isolation oxides on undercut formation and electrical characteristics for silicon selective epitaxial growth
Tseng, HC
;
Chang, CY
;
Pan, FM
;
Chen, LP
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-六月-2005
Extraction of substrate parameters for RF MOSFETs based on four-port measurement
Wu, SD
;
Huang, GW
;
Chen, KM
;
Chang, CY
;
Tseng, HC
;
Hsu, TL
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-六月-2004
Hot-carrier effects on power characteristics of SiGeHBTs
Huang, SY
;
Chen, KM
;
Huang, GW
;
Tseng, HC
;
Hsu, TL
;
Chang, CY
;
Huang, TY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-六月-2005
Hot-carrier induced degradations on RF power characteristics of SiGe heterojunction bipolar transistors
Huang, SY
;
Chen, KM
;
Huang, GW
;
Liang, V
;
Tseng, HC
;
Hsu, TL
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2004
Hot-carrier induced degradations on RF power characteristics of SiGe heterojunction bipolar transistors
Huang, SY
;
Chen, KM
;
Huang, GW
;
Hsu, TL
;
Tseng, HC
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2005
Impact of hot carrier stress on RF power characteristics of MOSFETs
Huang, SY
;
Chen, KM
;
Huang, GW
;
Yang, DY
;
Chang, CY
;
Liang, V
;
Tseng, HC
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-十二月-2005
Improvement in light-output efficiency of AlGaInP LEDs fabricated on stripe patterned epitaxy
Lee, YJ
;
Tseng, HC
;
Kuo, HC
;
Wang, SC
;
Chang, CW
;
Hsu, TC
;
Yang, YL
;
Hsieh, MH
;
Jou, MJ
;
Lee, BJ
;
光電工程學系
;
Department of Photonics
1-七月-2005
Linearity and power characteristics of SiGeHBTs at high temperatures for RF applications
Chen, KM
;
Peng, AS
;
Huang, GW
;
Chen, HY
;
Huang, SY
;
Chang, CY
;
Tseng, HC
;
Hsu, TL
;
Liang, V
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-1997
Low temperature epitaxy of Si and Si1-xGex by utrahigh vacuum-chemical molecular epitaxy
Huang, GW
;
Chen, LP
;
Chou, CT
;
Chen, KM
;
Tseng, HC
;
Tasi, WC
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-十一月-1996
Low-temperature and low thermal budget fabrication of polycrystalline silicon thin-film transistors
Lin, HY
;
Chang, CY
;
Lei, TF
;
Liu, FM
;
Yang, WL
;
Cheng, JY
;
Tseng, HC
;
Chen, LP
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-十一月-1996
Low-temperature and low thermal budget fabrication of polycrystalline silicon thin-film transistors
Lin, HY
;
Chang, CY
;
Lei, TF
;
Liu, FM
;
Yang, WL
;
Cheng, JY
;
Tseng, HC
;
Chen, LP
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-五月-2005
RF MOSFET characterization by four-port measurement
Wu, SD
;
Huang, GW
;
Chen, KM
;
Tseng, HC
;
Hsu, TL
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-七月-1997
The role of a resist during O-2 plasma ashing and its impact on the reliability evaluation of ultrathin gate oxides
Chien, CH
;
Chang, CY
;
Lin, HC
;
Chang, TF
;
Hsien, SK
;
Tseng, HC
;
Chiou, SG
;
Huang, TY
;
交大名義發表
;
奈米中心
;
National Chiao Tung University
;
Nano Facility Center
1-九月-2003
Study of nickel silicide contact on Si/Si1-xGex
Yang, TH
;
Luo, GL
;
Chang, EY
;
Yang, TY
;
Tseng, HC
;
Chang, CY
;
材料科學與工程學系
;
友訊交大聯合研發中心
;
Department of Materials Science and Engineering
;
D Link NCTU Joint Res Ctr