瀏覽 的方式： 作者 Wen-Tai Lu
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| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 2005 | 氮化處理與氟摻雜對二氧化鉿堆疊式閘極介電層金氧半場效電晶體其電性特性與可靠性影響 | 盧文泰; Wen-Tai Lu; 黃調元; Tiao-Yuan Huang; 電子研究所 |
| 1998 | 製程參數對複晶矽TEOS介電層特性之影響 | 盧文泰; Wen-Tai Lu; 黃調元; 趙天生; Dr. Tiao-Yuan Huang; Dr. Tien-Sheng Chao; 電子研究所 |
| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 2005 | 氮化處理與氟摻雜對二氧化鉿堆疊式閘極介電層金氧半場效電晶體其電性特性與可靠性影響 | 盧文泰; Wen-Tai Lu; 黃調元; Tiao-Yuan Huang; 電子研究所 |
| 1998 | 製程參數對複晶矽TEOS介電層特性之影響 | 盧文泰; Wen-Tai Lu; 黃調元; 趙天生; Dr. Tiao-Yuan Huang; Dr. Tien-Sheng Chao; 電子研究所 |