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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Wong, H. -S. Philip
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顯示 1 到 9 筆資料,總共 9 筆
公開日期
標題
作者
28-八月-2017
AC stress and electronic effects on SET switching of HfO2 RRAM
Liu, Jen-Chieh
;
Magyari-Kope, Blanka
;
Qin, Shengjun
;
Zheng, Xin
;
Wong, H. -S. Philip
;
Hou, Tuo-Hung
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2013
Design and Optimization Methodology for 3D RRAM Arrays
Deng, Yexin
;
Chen, Hong-Yu
;
Gao, Bin
;
Yu, Shimeng
;
Wu, Shih-Chieh
;
Zhao, Liang
;
Chen, Bing
;
Jiang, Zizhen
;
Liu, Xiaoyan
;
Hou, Tuo-Hung
;
Nishi, Yoshio
;
Kang, Jinfeng
;
Wong, H. -S. Philip
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-八月-2020
Design Space Analysis for Cross-Point 1S1MTJ MRAM: Selector-MTJ Cooptimization
Chiang, Hung-Li
;
Chen, Tzu-Chiang
;
Song, Ming-Yuan
;
Chen, Yu-Sheng
;
Chiu, Jung-Piao
;
Chiang, Katherine
;
Manfrini, Mauricio
;
Cai, Jin
;
Gallagher, William J.
;
Wang, Tahui
;
Diaz, Carlos H.
;
Wong, H. -S. Philip
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
7-六月-2014
Multi-level control of conductive nano-filament evolution in HfO2 ReRAM by pulse-train operations
Zhao, L.
;
Chen, H. -Y.
;
Wu, S. -C.
;
Jiang, Z.
;
Yu, S.
;
Hou, T. -H.
;
Wong, H. -S. Philip
;
Nishi, Y.
;
電機工程學系
;
Department of Electrical and Computer Engineering
1-十二月-2017
Resistive random access memory (RRAM) technology: From material, device, selector, 3D integration to bottom-up fabrication
Chen, Hong-Yu
;
Brivio, Stefano
;
Chang, Che-Chia
;
Frascaroli, Jacopo
;
Hou, Tuo-Hung
;
Hudec, Boris
;
Liu, Ming
;
Lv, Hangbing
;
Molas, Gabriel
;
Sohn, Joon
;
Spiga, Sabina
;
Teja, V. Mani
;
Vianello, Elisa
;
Wong, H. -S. Philip
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-二月-2009
Selective Device Structure Scaling and Parasitics Engineering: A Way to Extend the Technology Roadmap
Wei, Lan
;
Deng, Jie
;
Chang, Li-Wen
;
Kim, Keunwoo
;
Chuang, Ching-Te
;
Wong, H. -S. Philip
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-2017
Statistical Study of RRAM MLC SET Variability Induced by Filament Morphology
Hsu, Chung-Wei
;
Zheng, Xin
;
Wu, Yi
;
Hou, Tuo-Hung
;
Wong, H. -S. Philip
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-三月-2020
Wafer-scale single-crystal hexagonal boron nitride monolayers on Cu (111)
Chen, Tse-An
;
Chuu, Chih-Piao
;
Tseng, Chien-Chih
;
Wen, Chao-Kai
;
Wong, H. -S. Philip
;
Pan, Shuangyuan
;
Li, Rongtan
;
Chao, Tzu-Ang
;
Chueh, Wei-Chen
;
Zhang, Yanfeng
;
Fu, Qiang
;
Yakobson, Boris I.
;
Chang, Wen-Hao
;
Li, Lain-Jong
;
交大名義發表
;
電子物理學系
;
National Chiao Tung University
;
Department of Electrophysics
1-一月-1970
Wafer-scale single-crystal hexagonal boron nitride monolayers on Cu (111)
Chen, Tse-An
;
Chuu, Chih-Piao
;
Tseng, Chien-Chih
;
Wen, Chao-Kai
;
Wong, H. -S. Philip
;
Pan, Shuangyuan
;
Li, Rongtan
;
Chao, Tzu-Ang
;
Chueh, Wei-Chen
;
Zhang, Yanfeng
;
Fu, Qiang
;
Yakobson, Boris I.
;
Chang, Wen-Hao
;
Li, Lain-Jong
;
交大名義發表
;
電子物理學系
;
National Chiao Tung University
;
Department of Electrophysics