學術出版;;Publications
Permanent URI for this communityhdl:11536/1
收集所有交通大學研究人員與學生個人或團體所發表之各項學術著作,涵蓋期刊論文、教師專書、學位論文等項。;;Collections of Publications of NCTU Researchers and Students Like Journal Papers and Thesis.
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Item type:Item, Characterizing the electrical properties of raised S/D junctionless thin-film transistors with a dual-gate structure(2014-12-11) ;Cheng, Ya-Chi ;Chen, Hung-Bin ;Su, Jun-Ji ;Shao, Chi-ShenWang, Cheng-PingThis letter demonstrates a p-type raised source-and-drain (raised S/D) junctionless thin-film transistors (JL-TFTs) with a dual-gate structure. The raised S/D structure provides a high saturation current (> 1 mu A/mu m). The subthreshold swing (SS) is 100 mV/decade and the drain-induced barrier lowering (DIBL) is 0.8 mV/V, and the I-on/I-off current ratio is over 10(8) A/A for L-g = 1 mu m. Using a thin channel structure obtains excellent performance in the raised S/D structure. Besides the basic electrical characteristics, the dual-gate structure can also be used to adjust V-th in multi-V-th circuit designs. This study examines the feasibility of using JL-TFTs in future three-dimensional (3D) layer-to-layer stacked high-density device applications.Item type:Item, 地下儲槽滲漏監測系統可靠度評估與最佳化設計原則之探討(2009) ;單信瑜 ;SHAN HSIN-YU國立交通大學土木工程學系(所)地下儲槽及管線,因材質發生銹蝕或老化的材料受應力扭曲,極易造成破損洩漏。國內的加油站數量龐大,經證實或疑似污染事件層出不窮。雖然歷年來政府頒佈加油站地下儲槽與管線管理的相關法令,但是由環保署調查資料顯示,許多加油站的滲漏監測仍無法符合法令的標準。此外,由於政府管理措施未臻完善,國內許多業者經由監測發現有疑似污染時,大多自行採許取整治措施,政府部門無從介入瞭解實際污染狀況。目前台灣與世界各國加油站監測的方法雖以採行多年,但是除了監測儀器本身的精確度經過驗證之外,諸如土壤氣體監測、地下水監測等監測成效和現場水文地質條件以及設施配置緊密相關的方法,其可靠度均未經過詳細之研究。因此在各國的法令規章中,對於土壤氣體和地下水監測的結果判定均無明確的標準可循。因此,雖然土壤氣體和地下水監測為成本最低且最符合環境監測定義、且全台灣加油站最普遍採用的監測方法,但其監測之有效性卻是監測方法中可靠度最被質疑的。本研究將針對包括土壤氣體與地下水監測的各種不同的滲漏偵測方法利用資料分析和數值模式模擬加以評估。根據大量模擬加油站儲槽與管線配置時,現地水文地質條件參數的合理變化範圍下取得加油站範圍內三維土壤氣體與油品分佈。利用所得結果,可以計算出在加油站範圍內各網格上設置不同深度和井篩長度的土壤氣體監測井和地下水監測井可以得知之油氣濃度和浮油厚度,建立虛擬加油站滲漏土壤氣體濃度與地下水監測浮油厚度資料庫。之後,利用資料探勘與機器學習方式,進行滲漏監測可靠度因子分析以及預測模式,並可據以建立決策支援模式。並利用類神經網路或機器學習方法萃取模擬結果,所得之線性或非線性方程式可供提出加油站監測之最佳化原則。Item type:Item, 奈米CMOS元件不均勻、雜和氧化層缺陷導致臨限電壓變異之研究(I)(2010) ;莊紹勳 ;Chung Steve S國立交通大學電子工程學系及電子研究所CMOS 元件通道長度的微小化,趨動電流的提升、閘極氧化層漏電流,可分別運用應力技術 (strained technique)、high-k 加上metal gate 來克服。唯獨短通道效應或通道掺雜引起的臨限 電壓變異性(Vth Variability)目前尚未能夠良好的解決,它源自於通道中的掺雜(dopant),在面 積很小的情況下,其密度的多寡與分佈的不均勻(nonuniform)會影響到Vth,此效應稱之為 Random Dopant Fluctuation(RDF)。RDF 對Vth Variation 的影響會隨著製程條件與元件結構的 不同而有所改變。我們延續過去在CMOS 元件應力技術的研究成果,以及發展的各種可靠 性量測法,來研究RDF 及另一新穎的效應:稱之為Random Trap Fluctuation(RTF),以了解 更小元件改進RDF 及RTF 的有效CMOS 元件設計方式。計劃目的有四:其一是探討次奈米 世代CMOS 元件RDF(Random Dopant Fluctuation)導致的Vth Variation 與元件結構製程參數 相關性。其二是利用電流雜訊量測法(ID-RTN),探討各種strained-Si 元件,Hot carrier stress 效應下,RTF(Random Trap Fluctuation)導致的Vth Variation 及可靠性的關聯性。其三是,利 用傳輸理論,了解RDF 及RTF 對趨動電流的影響,最後,將它應用於FinFET 結構的研究, 且以SRAM 為Test Vehicle 來驗證此一Vth variation 的改進方法。 本計劃為期三年。第一年目標是運用園區廠商先進的 28nm 製程研製bulk control CMOS 元 件和strained Si -SiGe/SiC CMOS 等先進元件,建立Takeuchi plot 與元件各製程參數的相關 性,進行RDF(Random Dopant Fluctuation)導致的Vth Variation 的研究。接著探討可靠性行 為,利用吾人在2009VLSI 發展的電流雜訊量測法(ID-RTN),探討bulk control CMOS 元 件RTF(Random Trap Fluctuation)導致的Vth Variation 及可靠性的關聯性。 第二年計劃,是探討strained-Si CMOS 元件中,strain 造成的Vth variation。其次,運用電流 雜訊量測法(ID-RTN),探討Random Trap Fluctuation 導致的 variation、以及運用傳輸理論, 探討Vth variation 和driving current 間的關聯性。以了解strained CMOS 元件在趨動電流、可 靠性及導致Vth Variation 的設計準則。 第三年計劃,我們將研究 Vth variation 對FinFET 元件的影響。透過利用FinFET 結構降低 channel impurity 可以有效改善Vth variation 並維持良好的短通道效應,這都有待驗證。探討 主題包括FinFET 元件的Vth variation,RTN 的研究、以及FinFET 傳輸特性等,探討何種 製程參數及設計有較佳的抑制Vth variation 能力。最後將以SRAM cell 做為Test vehicle 來 驗證此一結構用於提昇雜訊邊限(noise margin)的能力。 總之,本計畫的進行,將發展一系列的研究方法,配合更小尺寸 28nm 元件的製作,探討 Bulk-CMOS、strained-Si CMOS、及FinFET CMOS 三種不同元件,Random Dopant Fluctuation 及Random Trap Fluctuation 造成Vth variation 的影響和driving current 間的關聯性,及利於發 展未來更小尺寸CMOS 元件的製程及元件設計,除了學術研究外,這對於產業應用,有立 即的幫助。Item type:Item, 超薄閘極氧化層元件可靠性研究(2001) ;汪大暉 ;WANG TAHUI國立交通大學電子工程學系Item type:Item, 高介電閘氧化層深次微米MOS元件電漿製程傷害可靠性之研究(2001) ;莊紹勳 ;Chung Steve S國立交通大學電子工程學系Item type:Item, 軸向流壓縮機監控系統之研發---錯誤偵測、診斷與可靠度控制(I)(2001) ;梁耀文 ;LIANG YEW-WEN國立交通大學電機與控制工程學系Item type:Item, 複合材料壓力容器的可靠性研究---總計畫(III)(1998) ;金大仁 ;KAM TAI-YAN交通大學機械工程系Item type:Item, 複合材料板殼結構之可靠性研究(1998) ;陳大潘交通大學機械工程研究所Item type:Item, 非軸對稱纏繞式複合材料構件的可靠性研究---總計畫(1999) ;金大仁 ;KAM TAI-YAN交通大學機械工程系Item type:Item, 極大型積體電路之深次微米元件及多層連線分析及模擬的研究(II)(1999) ;吳慶源交通大學電子工程系