後次微米時代新興電子設計自動化技術之研究---子計畫三：角落錯誤之矽除錯(III)

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DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	周景揚	en_US
dc.contributor.author	JOU JING-YANG	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-13T10:46:03Z	-
dc.date.available	2014-12-13T10:46:03Z	-
dc.date.issued	2010	en_US
dc.identifier.govdoc	NSC99-2220-E009-010	zh_TW
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/100617	-
dc.identifier.uri	https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=2158798&docId=347423	en_US
dc.description.sponsorship	行政院國家科學委員會	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.subject	除錯	zh_TW
dc.subject	矽除錯	zh_TW
dc.subject	可偵錯度	zh_TW
dc.subject	角落錯誤	zh_TW
dc.subject	錯誤區域辨識	zh_TW
dc.subject	錯誤候選邏輯閘排序	zh_TW
dc.subject	錯誤診斷架構	zh_TW
dc.subject	聚焦離子束	zh_TW
dc.subject	版圖調整	zh_TW
dc.subject	可移動訊號候選排序	zh_TW
dc.subject	Debug	en_US
dc.subject	Silicon debug	en_US
dc.subject	Diagnosibility	en_US
dc.subject	Hard-corner errors	en_US
dc.subject	Faulty-region identification	en_US
dc.subject	Fault-candidate ranking	en_US
dc.subject	Fault diagnosis architecture	en_US
dc.subject	Focused-ion-beam	en_US
dc.subject	Layout adjustment	en_US
dc.subject	moving-signal candidate ranking	en_US
dc.title	後次微米時代新興電子設計自動化技術之研究---子計畫三：角落錯誤之矽除錯(III)	zh_TW
dc.title	Silicon Debug for Hard-Corner Design Errors	en_US
dc.type	Plan	en_US
dc.contributor.department	國立交通大學電子工程學系及電子研究所	zh_TW
顯示於類別：	研究計畫

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