| 标题: | 测试资料之链路架构 |
| 作者: | 林佳毅 陈宏明 |
| 公开日期: | 16-十二月-2009 |
| 摘要: | 本发明系有关于一种链路架构，尤指一种测试资料之链路架构，其包括有一第一资料链及一第二资料链；第一资料链上串列有复数个第一资料处理模组，可处理一第一压缩资料而产生对应之第一解码资料，第二资料链上串列有复数个分别对应各个第一资料处理模组之第二资料储存模组，而第二资料链系可将一第二资料传送给各个第二资料储存模组，且各第一资料处理模组系可将第一解码资料将传送至第二资料储存模组，并与第二资料组配成一测试样本资料，晶片内部设置此电路则在进行测试时不仅可减少传输测试样本资料量，更可有效缩短资料传输之时间。 |
| 官方说明文件#: | G01D021/00 |
| URI: | http://hdl.handle.net/11536/103803 |
| 专利国: | TWN |
| 专利号码: | 200951407 |
| 显示于类别： | Patents |
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