完整後設資料紀錄
DC 欄位語言
dc.contributor.author郭正次en_US
dc.contributor.author潘扶民en_US
dc.contributor.author陳柏林en_US
dc.contributor.author張峻愷en_US
dc.date.accessioned2014-12-16T06:13:30Z-
dc.date.available2014-12-16T06:13:30Z-
dc.date.issued2006-06-01en_US
dc.identifier.govdocC01B031/02zh_TW
dc.identifier.govdocB82B003/00zh_TW
dc.identifier.govdocC01B031/02zh_TW
dc.identifier.govdocB82B003/00zh_TW
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/104188-
dc.description.abstract一種控制奈米碳管管束密度的方法,適於利用一化學氣相沉積法在一氧化物模板的奈米級孔洞內成長奈米碳管,其特徵在於氧化物模板係經由兩階段陽極氧化處理,以形成具有陣列排列的奈米級孔洞;以及利用控制化學氣相沉積法的反應氣氛之種類與比例,來控制奈米碳管之管束密度。因此,本發明能有效提昇奈米碳管之應用性。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.title控制奈米碳管管束密度的方法與奈米碳管的製造方法zh_TW
dc.typePatentsen_US
dc.citation.patentcountryTWNzh_TW
dc.citation.patentnumber200616890zh_TW
顯示於類別:專利資料


文件中的檔案:

  1. 200616890.pdf

若為 zip 檔案,請下載檔案解壓縮後,用瀏覽器開啟資料夾中的 index.html 瀏覽全文。