完整後設資料紀錄
| DC 欄位 | 值 | 語言 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 張俊彥 | en_US |
| dc.contributor.author | 楊宗熺 | en_US |
| dc.contributor.author | 沈詩國 | en_US |
| dc.date.accessioned | 2014-12-16T06:16:46Z | - |
| dc.date.available | 2014-12-16T06:16:46Z | - |
| dc.date.issued | 2011-11-01 | en_US |
| dc.identifier.govdoc | H01L021/20 | zh_TW |
| dc.identifier.govdoc | H01L051/00 | zh_TW |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/106058 | - |
| dc.description.abstract | 本發明為一種於半導體基板上形成三族氮化物半導體層的方法。首先，提供一半導體基板，其半導體基板上具有一清潔表面；再形成一氮化鎵奈米柱緩衝層；覆蓋成長形成一氮化鎵磊晶層於氮化鎵奈米柱緩衝層上，藉以形成三族氮化物半導體層於半導體基板上。 | zh_TW |
| dc.language.iso | zh_TW | en_US |
| dc.title | 於半導體基板上形成三族氮化物半導體層的方法 | zh_TW |
| dc.type | Patents | en_US |
| dc.citation.patentcountry | TWN | zh_TW |
| dc.citation.patentnumber | I351717 | zh_TW |
| 顯示於類別： | 專利資料 | |
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