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dc.contributor.author林怡欣en_US
dc.date.accessioned2014-12-16T06:16:56Z-
dc.date.available2014-12-16T06:16:56Z-
dc.date.issued2014-09-21en_US
dc.identifier.govdocG01N033/487zh_TW
dc.identifier.govdocG02F001/13zh_TW
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/106183-
dc.language.isozh_TWen_US
dc.title具有液晶聚合物薄膜之檢測裝置及檢測方法zh_TW
dc.typePatentsen_US
dc.citation.patentcountryTWNzh_TW
dc.citation.patentnumberI453410zh_TW
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  1. I453410.pdf

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