標題: | 金氧半場效電晶體之閘極結構 |
作者: | 崔秉鉞 黃誌鋒 |
公開日期: | 1-十一月-2003 |
摘要: | 本發明係提出一種新的合金系統,用以解決金氧半場效電晶體金屬閘極功函數的不適性,促使表面通道電晶體起始電壓係可有效降低,達到低工作電壓之要求,本合金系統以化學性質不活潑且熱穩定性極佳的鉑金屬(Pt)為主成分,加入不同比例之低功函數材料,例如:鉭(Ta)或鈦(Ti),以達成調整功函數之目的。合金閘的製作方法可以是同時濺鍍(co-sputter)或是同時蒸鍍(co-evaporation)的物理氣象沉積方式,依所需之成分調整鉑靶及低功函數金屬靶之沉積速率,以合成適當的鉑合金,亦可以使用事先合成之合金靶,以單純物理性濺鍍方式製作。 |
官方說明文件#: | H01L021/28 H01L021/28 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/106456 |
專利國: | TWN |
專利號碼: | 00559917 |
顯示於類別: | 專利資料 |